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低電流電容測試系統(tǒng) 產(chǎn)品介紹 低電流和電容測試在納米材料與器件、半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)、有機(jī)材料與器件、材料表征和電化學(xué)等中應(yīng)用廣泛。低電流和電容測試涉及環(huán)境噪聲干擾以及直流與交流的信合耦合等，經(jīng)常面臨噪聲屏蔽、接地（虛地與實(shí)地）、信號傳輸、交直流干擾、線纜選擇等挑戰(zhàn)。翼望半導(dǎo)體的電流電容測試系統(tǒng)采用高穩(wěn)定的精密探針臺系統(tǒng)、優(yōu)化的交直流傳輸線纜、完善的接地系統(tǒng)和控制軟件組成，實(shí)現(xiàn)fA級電流測試以及fF級電容測試。
產(chǎn)品特點(diǎn) Ø高品質(zhì)的低漏電線纜 Ø優(yōu)化的接地屏蔽與信號通路 Ø高穩(wěn)定性探針臺系統(tǒng) Ø軟件一建控制，操作便捷
現(xiàn)場搭建案例 下圖是基于Keysight B1500半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 實(shí)現(xiàn)fA以內(nèi)的生物器件的掃描曲線。基于Keithley SCS4200的電容模塊測試fF級電容的掃描圖
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